Микроскоп предназначен для исследовательских работ в области металлографии. Оптическая система микроскопа дает возможность получать изображения с увеличением от 7 до 1000 крат, что позволяет проводить исследования структуры материалов, изломов и обнаруживать дефекты.
Микроскоп поддерживает несколько режимов работы: светлое поле (BF), темное поле (DF), поляризация (POL), дифференциально-интерференционный контраст (DIC), косое освещение.
- Величина зерна в сталях и сплавах: ГОСТ 5639
- Неметаллические включения в сталях и сплавах: ГОСТ 1778 (методы Ш и К);
- Анализ графита в чугуне: ГОСТ 3443
- Относительное содержание феррита и перлита: ГОСТ 8233
- Измерение длин игл мартенсита: ГОСТ 8233
- Методы сравнения с эталонами
- Возможно создание уникальной методики анализа по техническому заданию заказчика (анализ величины зерна и пористости в образцах, анализ альфа-фазы в титановых сплавах, анализ многокомпонентных алюминиевых сплавов и т. д.)
Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) используется для визуализации частиц малых размеров, 1–5 нм, для исследования тонкодисперсионных структур. Помимо этого, метод ПЭМ позволяет проводить энергодисперсионный анализ для определения химического состава отдельных фаз, определять тип и параметры кристаллической решетки, изучать строение границ зерен, устанавливать плоскости залегания дефектов, а также плотность и распределение дислокаций в материалах изделий.
Talos F200X обладает рядом преимуществ за счет использования новейших технологий FEI в области просвечивающей электронной микроскопии.
- Аналитическая объективная линза A-TWIN постоянной мощности для высочайшей стабильности
- Поддержка многопользовательской работы с сохранением и быстрым восстановлением независимых для каждого пользователя настроек работы микроскопа
- Полностью удаленная работа за счет использования камеры с большим динамическим диапазоном Ceta. Фокусировка, юстировка оптики, работа с дифракцией – всё выполняется без использования традиционного фосфорного экрана в условиях нормальной освещенности в помещении
- Уникальная безоконная конструкция кремниевых дрейфовых детекторов рентгеновского излучения обеспечивает высокую скорость анализа и чувствительность при анализе легких элементов
- EDS-спектрометр FEI SuperX: четыре детектора для максимальной чувствительности под любым углом. 3D-томография с восстановлением элементного состава
- Сверхъяркий катод FEI X-FEG: ток пучка в пять раз выше стандартного катода Шоттки
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с катодом Шоттки позволяет получать СЭМ-изображения и проводить анализ структуры, качественного и количественного химического состава металлических и неметаллических материалов, сварных соединений, а также порошковых материалов в режиме реального времени.
- Диапазон увеличений без искажений поля зрения: от 2x до 1 000 000x
- Пространственное разрешение сканирующего электронного микроскопа: 1,2 нм при 30 кВ
- Ток пучка электронов: от 2 пА до 200 нА
- Максимальная скорость сканирования: 20 нс/пиксель
- Детектор вторичных электронов типа Эверхарта–Торнли для получения изображений топографического контраста
- Моторизованный выдвижной кольцевой детектор отраженных электронов сцинтилляционного типа на основе синтетического высокочувствительного YAG-кристалла. Получение изображений композиционного контраста с разрешением по атомному номеру 0,1Z
- Система энергодисперсионного микроанализа AZtecLive Advanced Ultim Max 65
- Система анализа картин дифракции отраженных электронов AZtecHKL Standard C-Nano
- Управляющая станция AZtec Automated для энергодисперсионного детектора Ultim Max обеспечивает совместную работу системы элементного микроанализа EDS и системы анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов EBSD
- Визуализация распределения ориентировок кристаллитов с помощью прямых и обратных полюсных фигур для всех 11 групп Лауэ. Разориентировки в системе координат, связанной с поверхностью образца либо с выделенным направлением в кристалле
